TELERILEVAMENTO II

1 - Spettroscopia avanzata nel VIS-SWIR  
1.1 - Approfondimento dei processi elettronici
1.2 - Variazione dei parametri spettrali e caratteristiche composizionali deiminerali
1.3 - Miscele di minerali- Scattering
1.4 - Spettroscopia delle rocce
1.5 - Metodi di deconvoluzione delle curve spettrali
1.6 – Misure spettroscopiche di riflettanza sul terreno
1.7- Sensori iperspettrali a immagine per telerilevamento nel VIS-SWIR–interferometri – codici per la correzione per gli effetti atmosferici
 
2 - Laboratorio 1
2.1 - Analisi di dati di laboratorio di rocce e minerali
2.2 - Analisi di dati iperspettrali telerilevati per esplorazione litologica emineraria
 
3 - Spettroscopia nel Mid-IR     
3.1 - Legge di Kirchhoff
3.2 - Costanti ottiche
3.3 - Spettri di emissività di minerali e rocce
3.4 – Misure di emissività spettrale sul terreno
3.5 – Sistemi iperspettrali a profilo e a immagine per telerilevamento nelMid-IR
 
4 -  Laboratorio2  
4.1 - Analisi di dati di laboratorio di rocce e minerali
4.2 - Analisi di dati spettrali da remoto per esplorazione litologica emineraria        
 
5 - Analisi delle proprietà termiche del terreno 
5.1 - Separazione temperatura-emissività
5.2 - Processi all’interfaccia terreno-atmosfera
5.3 - Proprietà termiche: capacità, conduttività, inerzia termica
5.4 - Variazioni termiche nel profilo verticale del terreno
5.5 – Misure di emittanza della superficie e irradianzasolare sul terreno
5.5 – Metodi per la valutazione delle variazioni della radianza dellasuperficie terrestre nel Mid-IR
 
6 - Laboratorio 3
6.1 – Elaborazione di dati telerilevati per la valutazione delleproprietà termiche del terreno